深圳事務(wù)所NIRECO尼利可 X射線熒光分析儀 X-500 Series深圳事務(wù)所NIRECO尼利可 X射線熒光分析儀 X-500 Series深圳事務(wù)所NIRECO尼利可 X射線熒光分析儀 X-500 Series概述X 射線熒光光譜儀 （XRF） 不僅可以識別構(gòu)成樣品的元素，還可以通過檢測用 X 射線照射樣品產(chǎn)生的每種元素所產(chǎn)生的特異性熒光 X 射線來分析其成分比例。 XRF原則上是一種非破壞
深圳事務(wù)所NIRECO尼利可 X射線熒光分析儀 X-500 Series
深圳事務(wù)所NIRECO尼利可 X射線熒光分析儀 X-500 Series
深圳事務(wù)所NIRECO尼利可 X射線熒光分析儀 X-500 Series
X 射線熒光光譜儀 （XRF） 不僅可以識別構(gòu)成樣品的元素，還可以通過檢測用 X 射線照射樣品產(chǎn)生的每種元素所產(chǎn)生的特異性熒光 X 射線來分析其成分比例。 XRF原則上是一種非破壞性和非侵入性的測量設(shè)備。
應(yīng)用包括采礦中的礦物分析和采礦領(lǐng)域的勘探鉆探，工業(yè)領(lǐng)域的金屬和合金（如材料）的識別和分類，RoHS和CPSIA等安全一致性測試，SDG領(lǐng)域的廢鋼廠廢金屬的識別和分類，環(huán)境領(lǐng)域的土壤污染調(diào)查， 此外，利用其非侵入性的特性，設(shè)想了廣泛的領(lǐng)域，例如工藝品的判斷。
X-500 系列是 2021 年 6 月在日本發(fā)布的最新高級型號。
它具有最輕而堅(jiān)固的金屬框架，其狹窄的尖端形狀使其能夠在狹窄的間隙中測量樣品表面。
您可以根據(jù)要測量的樣品和環(huán)境從兩種類型的光源中進(jìn)行選擇。
除了提供根據(jù)您的需求量身定制的軟件庫外，您還可以使用可選的 PC 軟件創(chuàng)建自己的校準(zhǔn)曲線。
與傳統(tǒng)型號相比，X-500 系列的窄尖端形狀使其可以測量狹窄間隙后面的樣品表面，使其成為現(xiàn)場操作的理想選擇。吸頭形狀
規(guī)格
X射線管電壓和靶材 40kV Rh管或50kV金管 探測器 20mm2 硅漂移探測器 濾波器 4種類型 工作環(huán)境溫度 -10°C ~ 50°C （25% 占空比） 權(quán)力 鋰離子電池可以使用隨附
的交流適配器進(jìn)行操作顯示 2.7英寸彩色觸摸屏 數(shù)據(jù)傳輸 USB、WiFi、藍(lán)牙 樣本記錄 配備兩個(gè)攝像頭，一個(gè)照射窗攝像頭和一個(gè)全景攝像頭 重量 1.3kg（含電池） 外形尺寸 A213mm×B267mm×W64mm