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NIRECO尼利可

深圳事務所NIRECO尼利可 X射線熒光分析儀 X-200 Series

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概述

  • X 射線熒光光譜儀 (XRF) 不僅可以識別構成樣品的元素,還可以通過檢測用 X 射線照射樣品產生的每種元素所產生的特異性熒光 X 射線來分析其成分比例。


  • XRF原則上是一種非破壞性和非侵入性的測量設備。


  • 應用包括采礦中的礦物分析和采礦領域的勘探鉆探,工業領域的金屬和合金(如材料)的識別和分類,RoHS和CPSIA等安全一致性測試,SDG領域的廢鋼廠廢金屬的識別和分類,環境領域的土壤污染調查, 此外,利用其非侵入性的特性,設想了廣泛的領域,例如工藝品的判斷。


  • X-200 系列是一種流行的型號。 它具有與高端機器幾乎相同的測量性能,并具有相同的用戶界面。 根據要測量的樣品,有兩種類型的光源可供選擇。


  • 除了提供根據您的需求量身定制的軟件庫外,您還可以使用可選的 PC 軟件創建自己的校準曲線。

顯示

  • X-200系列采用3.5英寸LCD彩色觸摸屏,具有大而高的可視性水平。

規格

X射線管電壓和靶材40kV Rh管或50kV金管
探測器20mm2 硅漂移探測器
濾波器6種類型
工作環境溫度-10°C ~ 50°C (25% 占空比)
權力鋰離子電池(可拆卸) 可以使用
隨附的交流適配器進行操作
顯示3.5英寸彩色觸摸屏
數據傳輸USB、WiFi、藍牙
先生/女士記錄配備兩個攝像頭,一個照射窗攝像頭和一個全景攝像頭
重量1.4kg(含電池)
外形尺寸238毫米×283毫米×84毫米


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