現(xiàn)貨NIRECO尼利可 近紅外光譜分析儀（400-2500nm） A8850（粉末和固體型號）現(xiàn)貨NIRECO尼利可 近紅外光譜分析儀（400-2500nm） A8850（粉末和固體型號）現(xiàn)貨NIRECO尼利可 近紅外光譜分析儀（400-2500nm） A8850（粉末和固體型號）概述自主研發(fā)的近紅外模型基于40多年積累的近紅外光譜技術(shù)，這款近紅外光譜分析儀以我們的專有技術(shù)進行了完善，以追求在測試
現(xiàn)貨NIRECO尼利可 近紅外光譜分析儀（400-2500nm） A8850（粉末和固體型號）
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現(xiàn)貨NIRECO尼利可 近紅外光譜分析儀（400-2500nm） A8850（粉末和固體型號）
基于40多年積累的近紅外光譜技術(shù)，這款近紅外光譜分析儀以我們的專有技術(shù)進行了完善，以追求在測試室進行分析所需的功能。 各種機制，包括響應(yīng)現(xiàn)場各種測量請求的 Mr./Ms. 系統(tǒng)，提供了高性價比和世界一流的性能。
光譜學方法使用大光柵，寬掃描單色器可在 400 至 2500 nm 的波長范圍內(nèi)進行高質(zhì)量的光譜測量。 此外，Mr./Ms.拉箱配備了一個具有XY可移動性的多功能載物臺，可以結(jié)合光譜測量實現(xiàn)靈活的測量方法。 以下三種類型的操作可以作為標準測量模式。
對于粒徑較大的樣品，在移動 X 軸載物臺的同時進行光譜的多點測量。 通過對最終獲得的光譜進行平均，可以獲得穩(wěn)定的光譜。 對于高度均勻的試樣（如粉末），可以通過移動 XY 的兩個軸來自動連續(xù)測量設(shè)置在托盤上的多個樣品。 通過設(shè)置用于居中的光圈適配器，可以測量靜止狀態(tài)下的居中。 您也可以在測量單元中設(shè)置培養(yǎng)皿并直接測量。 也可以通過一個接一個地居中來測量顆粒狀樣品。測量模式列表
顆粒狀試樣測量
此功能減少了粗粒樣品測量中重新填充過程中的可變性，并且可有效測量未磨碎的谷物（大米、小麥、大豆等）和長樣品（干面條等）。自動測量多個樣品
對于定量分析，使用帶有密封塞的特殊石英瓶倉。 托盤尺寸有標準φ29mm 3×2掛架、φ29mm 4×2掛架和φ19mm 5×3掛架，可根據(jù)用途選擇最佳尺寸。
此外，我們還將支持舞臺操作，根據(jù)客戶的要求實現(xiàn)映射測量，因此請使用它來實現(xiàn)利用您的想法的測量。直接測量
如果要測量的試樣特別大，可以移除用于定心的虹膜適配器，將試樣直接放在 Mr./Ms. 臺上，從而實現(xiàn)不受試樣尺寸影響的靈活性。規(guī)格
* 本規(guī)格的某些規(guī)格如有更改或改進，恕不另行通知。測量波長范圍 400-2500納米 光度范圍 2.0澳分 噪聲 （RMS） （0 abs） 400-700nm <50μAbs<b10>700-2500nm <30μAbs 數(shù)據(jù)間隔 0.5納米 掃描速度 2 次掃描/秒 探測器 400-1100nm Si（硅） 1100-2500nm
PbS（硫化鉛）電源輸入 單相交流 90V-264V 50/60Hz 功耗 高達 200W 主體尺寸 寬度 410mm × 高度 400mm ×深度 620mm