ASAHI SOKKI朝日測器切割樣品缺陷評估裝置 | ALTIS-RP使用分辨率為 15 μm 的缺陷圖可以輕松校準(zhǔn)和驗證切割樣品的表面缺陷的評估和檢查。應(yīng)用/特點它可以作為離線表面缺陷校準(zhǔn)的專家設(shè)備，這對于質(zhì)量評估至關(guān)重要。設(shè)備配置該設(shè)備是必須由用戶安裝和連接的設(shè)備。只需將檢測設(shè)備和 PC 放置在水平支架上，并用兩根電纜連接檢測設(shè)備和 PC 即可完成安裝。排隊根據(jù)泛光燈的結(jié)構(gòu)，ALTIS 分為
ASAHI SOKKI朝日測器切割樣品缺陷評估裝置 | ALTIS-RP
使用分辨率為 15 μm 的缺陷圖可以輕松校準(zhǔn)和驗證切割樣品的表面缺陷的評估和檢查。
它可以作為離線表面缺陷校準(zhǔn)的專家設(shè)備，這對于質(zhì)量評估至關(guān)重要。
該設(shè)備是必須由用戶安裝和連接的設(shè)備。
只需將檢測設(shè)備和 PC 放置在水平支架上，并
用兩根電纜連接檢測設(shè)備和 PC 即可完成安裝。
根據(jù)泛光燈的結(jié)構(gòu)，ALTIS 分為三種類型。
請根據(jù)檢查對象和檢查缺陷進(jìn)行選擇，并在購買時注明。
*ALTIS-P 可以作為選項定制為魚眼檢查模型。
掃描切割樣品并檢測缺陷。測試結(jié)果可以在下面的四個屏幕上確認(rèn)。
您可以使用與測試時相同的屏幕配置來檢查過去測試的數(shù)據(jù)。
您可以從過去的測試結(jié)果中選擇任何數(shù)據(jù)，并將其以 CSV 格式保存到 USB 存儲器。
您可以在與測試時相同的四個屏幕上檢查過去的測試結(jié)果。
可以調(diào)出缺陷圖像的濃度測量屏幕。
在密度測量屏幕上，您可以分析缺陷的灰度等級和尺寸。
最多可注冊100個品種。
可以為每種產(chǎn)品類型注冊檢測靈敏度和尺寸等各種設(shè)置。開始檢查時，只需選擇注冊的產(chǎn)品類型，就會設(shè)置適當(dāng)?shù)臋z查條件。
*啟動設(shè)備時，每個屏幕上顯示的語言可以從日語、韓語和英語中選擇。
可以使用波形監(jiān)視器功能來調(diào)整檢測器（攝像機(jī)/發(fā)射器）。
| 解決 | 寬度方向10μm×長度方向10μm |
|---|---|
| 相機(jī) | C-MOS線傳感器相機(jī)（單色）16384像素/680MHz |
| 泛光燈 | LED線照明（從下面選擇） ?ALTIS-RP（反射/透射） ?ALTIS-R（反射） ?ALTIS-P（透射） |
| 樣本量 | 尺寸：210mm x 297mm（A4尺寸） 厚度：0.05mm ~ 最大1.0mm |
| 檢測判斷 | 明/暗漸變、寬度/長度/面積 |
| 移動速度 | 工作臺移動速度 6 m/min。 |
| 檢驗時間 | 約15秒（每張） |
| 檢驗范圍 | 拍攝范圍：160 mm x 230 mm *請聯(lián)系我們了解檢查尺寸（定制設(shè)計） |
| 電源 | AC100~220V 50/60Hz |
| 個人電腦 | CPU：Intel Core i7 3.4GHz |