kett膜厚計 電磁式膜厚儀LE-373
產品概要磁性材料上非磁性薄膜厚度的測量電磁式鍍層測厚儀中檔型號測量范圍 0-2500μm數據記憶39000點,統計運算功能主要規格測量方法電磁感應測量對象磁性材料上的非磁性涂層測量范圍0-2500μm 或 99.0mils測量精度50μm以下:±1μm、50μm以上且1000μm以下:±2%、1000μm以上:±3%解決100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm符合標準JIS K5600-
產品概要磁性材料上非磁性薄膜厚度的測量電磁式鍍層測厚儀中檔型號測量范圍 0-2500μm數據記憶39000點,統計運算功能主要規格測量方法電磁感應測量對象磁性材料上的非磁性涂層測量范圍0-2500μm 或 99.0mils測量精度50μm以下:±1μm、50μm以上且1000μm以下:±2%、1000μm以上:±3%解決100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm符合標準JIS K5600-
磁性材料上非磁性薄膜厚度的測量
電磁式鍍層測厚儀中檔型號
測量范圍 0-2500μm
數據記憶39000點,統計運算功能
主要規格
測量方法 電磁感應 測量對象 磁性材料上的非磁性涂層 測量范圍 0-2500μm 或 99.0mils 測量精度 50μm以下:±1μm、50μm以上且1000μm以下:±2%、1000μm以上:±3% 解決 100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm 符合標準 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 數據存儲器數量 約39,000點 校準曲線內存 應用內存:存儲 100 條校準曲線 探測 一點接觸恒壓型(LEP-J) 顯示方式 數字式(帶背光的LCD,最小顯示位數0.1μm) 外部輸出 電腦(USB 或 RS-232C) 電源 電池 1.5V(AA 堿性)x 4 能量消耗 80mW(背光關閉時) 電池壽命 100小時(無背光連續使用) 工作溫度限制 0 至 40°C 附加功能 16種各種功能 尺寸/質量 75(寬)x 145(深)x 31(高)毫米,0.34 千克 配件 標準板(10 μm、50 μm、100 μm、500 μm、1000 μm、1500 μm,近似值,各 1 個)、標準板盒、鐵座(FE-373)、探頭適配器、手提箱、電池 1.5 V( AA堿性)×4 選項 標準板(附件以外的厚度)、測量臺LW-990、PC電纜、RS-232C-USB電纜、數據管理軟件:“Data Logger LDL-03”