kett凱特膜厚計 探頭 HP-100
產品概要新開發的膜厚計用探頭L-500渦流探頭（用于非磁性金屬基材）存儲多達 50 個應用程序記憶主要規格測量方法渦流測量對象非磁性金屬上的絕緣涂層測量范圍0 至 1,200μm 或 47.0mils測量精度小于 50 μm ±1.0 μm50 μm 以上 ±2%適用機型薄膜測厚儀 L-500
產品概要
新開發的膜厚計用探頭L-500
渦流探頭（用于非磁性金屬基材）
存儲多達 50 個應用程序記憶
主要規格
測量方法 渦流 測量對象 非磁性金屬上的絕緣涂層 測量范圍 0 至 1,200μm 或 47.0mils 測量精度 小于 50 μm ±1.0 μm
50 μm 以上 ±2%適用機型 薄膜測厚儀 L-500