用于研發(fā)和制造的膜厚計(jì)（厚度計(jì)），可實(shí)現(xiàn)非接觸式、高精度、寬范圍的厚度測(cè)量
- 能夠在不損壞或變形的情況下測(cè)量硬質(zhì)和軟質(zhì)材料的厚度
- 測(cè)厚儀最多可同時(shí)測(cè)量 31 層
- 高精度 ±0.1 μm
，長(zhǎng)期測(cè)量重復(fù)性高達(dá) ±0.02 μm -
內(nèi)置長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn) - 可追溯
至 NIST 標(biāo)準(zhǔn)
- 測(cè)量范圍寬，從 12 μm 到 80 mm
- 顯示軟件控制測(cè)量參數(shù)并報(bào)告厚度數(shù)據(jù)
- API 允許通過(guò) USB 或以太網(wǎng)支持集成到制造流程中

*可提供演示機(jī)，可進(jìn)行樣品測(cè)量
厚度信息對(duì)于各種材料的開發(fā)和制造至關(guān)重要。為了滿足這一需求，布里斯托爾儀器提供了一系列采用成熟光學(xué)技術(shù)的厚度測(cè)量產(chǎn)品。此外，性能水平實(shí)現(xiàn)了前所未有的多功能性和便利性。